微觀應(yīng)力和晶粒尺寸的X射線單峰傅立葉分析法

研究了傅立葉分析法必然存在"hook"效應(yīng)的原因,提出解決此效應(yīng)的方法,進而利用假設(shè)函數(shù)的方法,把推理嚴謹?shù)亩喾甯盗⑷~分析法簡化成單峰分析法.此方法引入?yún)��?shù)m,不但能指出誤差大小,而且能自動修正誤差.單峰傅立葉分析法是一種簡單且高精度的測定微觀應(yīng)力和晶粒尺寸的方法.

作 者： 趙影 熊瑛 楊保和   作者單位： 趙影(天津理工學院自動化與能源工程學院)

熊瑛,楊保和(天津理工學院光電系,天津,300191) 

刊 名： 光電子·激光  ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF OPTOELECTRONICS·LASER  年，卷(期)： 2003 14(2)  分類號： O766+.3  關(guān)鍵詞： X射線   Voigt函數(shù)   "hook"效應(yīng)   微觀應(yīng)力   晶粒尺寸   單峰傅立葉分析法  

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