DNA在納米碳管上的檢測及甘草素-Cu(Ⅱ)對(duì)DNA的損傷研究

本文用恒電位溶出法測定了單鏈、雙鏈DNA在納米碳管上的電化學(xué)行為,詳細(xì)討論了各種因素的影響,并研究了甘草素在銅離子的存在下對(duì)DNA的損傷作用,發(fā)現(xiàn)在0.84 V左右出現(xiàn)一個(gè)新峰,1.06 V的峰升高.同時(shí)用壓電石英阻抗技術(shù)實(shí)時(shí)監(jiān)測了這個(gè)損傷過程,進(jìn)行進(jìn)一步地佐證,頻率的變化是損傷過程中的DNA降解導(dǎo)致的溶液粘密度變化所產(chǎn)生的.

作 者： 劉英菊 袁銳昌 黎艷玲 LIU Ying-ju YUAN Rui-chang LI Yan-ling   作者單位： 劉英菊,袁銳昌,LIU Ying-ju,YUAN Rui-chang(華南農(nóng)業(yè)大學(xué)理學(xué)院應(yīng)用化學(xué)系,廣東,廣州,510642)

黎艷玲,LI Yan-ling(長沙卷煙廠科研所,湖南,長沙,410007) 

刊 名： 化學(xué)研究與應(yīng)用  ISTIC PKU 英文刊名： CHEMICAL RESEARCH AND APPLICATION  年，卷(期)： 2007 19(6)  分類號(hào)： O657.1  關(guān)鍵詞： 甘草素   納米碳管   DNA損傷   恒電位溶出分析  

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