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ICP-MS法測定電子級高純異丙醇中痕量金屬雜質
用電感耦合等離子體-質譜(ICP-MS)的標準狀態(tài)(STD)和冷焰狀態(tài)(PS)測定電子級高純異丙醇中的18個痕量金屬雜質,用銦作內標可補償基體效應.方法檢出限為0.1×10-12~100×10-12,加標回收率為80%~120%,長時間相對標準偏差(RSD)小于7%.ICP-MS測定結果與ICP光譜測定結果基本一致,但ICP-MS提高了分析的準確性和工作效率.
作 者: 孟蓉 鄭春麗 童淑麗 作者單位: 北京化學試劑研究所,北京,100022 刊 名: 化學試劑 ISTIC PKU 英文刊名: CHEMICAL REAGENTS 年,卷(期): 2004 26(5) 分類號: O656.31 關鍵詞: 電子級高純異丙醇 ICP-MS 痕量金屬雜質【ICP-MS法測定電子級高純異丙醇中痕量金屬雜質】相關文章:
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